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QSpec科思凱系列>> 透過反射率測試儀>>Planum-3000平面光學元件光譜分析儀  

Planum- 3000平面光學元件光譜分析儀

 

PLanum-3000平面光學元件光譜分析儀用于快速測量各類平面光學元件的反射、透射光譜,可進行多角度絕對反射率、相對反射率、透射率測量,偏振光測量,膜性測量,顏色測量等。

 

儀器特點

自定義多角度透反射測量

測量對象

平行平板、平晶 光片 紅外截止片

技術參數

型號

Planum-3000

Planum-3000ADV

探測器

Hamamatsu背照式CD陣列

Hamamatsu背照式CD陣列

檢測范圍

380-1100nm

380-1100nm

波長分辨率

1nm

1nm

信噪比(全信號)

1000 : 1

1000 : 1

相對檢測誤差

< 0.2% ( 410-900nm )

< 0.2% ( 410-900nm )

操作方式

自動

自動

角度分辨率

<0.0002°

<0.0002°

重復定位精度

<0.005°

<0.005°

旋轉最大速度

25°/s

25°/s

透射測量角度

0-80° (小樣品0-50° )

0-80° (小樣品0-50° )

反射測量角度

5-80°

5-80°

S/P光測量

可選(手動切換)

電動

樣品尺寸

>Φ3mm

操作系統/接口

Windows7~Windows10/ USB2.0

電源/功率

220V-50HZ /100W

其它

可自定義打印報表格式,開放式光學材料數據庫

 

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